薄膜的厚度是否均勻一致，是檢測薄膜各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。很顯然，倘若一批單層薄膜的厚度不均勻，不但會影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性能等指標(biāo)，更會影響薄膜的后續(xù)加工。此外，對產(chǎn)品的厚度采取合理的控制，不但能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量，還能降低材料的消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在范圍之內(nèi)，這些都稱為薄膜是否能夠具有某些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造業(yè)的基礎(chǔ)檢測項(xiàng)目之一。
但是，市面上的薄膜測厚設(shè)備種類繁多，您在選購上面是否選擇了合適的測厚儀呢？
塑料薄膜厚度的測試zui早用于薄膜厚度測量的是實(shí)驗(yàn)室測厚技術(shù)，即在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行薄膜取樣，進(jìn)行厚度檢測以獲取薄膜的厚度數(shù)據(jù)。之后，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，逐漸研發(fā)出可以能夠在薄膜生產(chǎn)線上使用的在線測厚設(shè)備。在線測厚儀技術(shù)與非在線測厚技術(shù)在測試原理上*不同，一般來講，在線測厚儀大多采用射線技術(shù)等非接觸式的測量犯法，而非在線測厚技術(shù)一般采用機(jī)械接觸式測量法或者是基于電渦流、電磁感應(yīng)原理的測量方法，也有采用光學(xué)測厚、超聲波測厚技術(shù)的。
面對上述如此之多的測厚方法，企業(yè)在選擇薄膜厚度檢測設(shè)備的時(shí)候，該作何選擇呢？
1、射線式測厚儀
射線技術(shù)多用于在線測厚的設(shè)備上，對于測量物要求并不高。但是由于在線測厚儀需要安裝在薄膜生產(chǎn)線上，由于環(huán)境溫度、大氣壓變化以及生產(chǎn)線中出現(xiàn)的薄膜上下波動等情況，對射線測厚儀的要求非常高，所以設(shè)備的價(jià)格、后續(xù)的維護(hù)費(fèi)用會相當(dāng)大。對于企業(yè)來說，成本會很高。
2、機(jī)械接觸式測厚儀
機(jī)械接觸式測厚儀，它與非接觸式測厚方法有著本質(zhì)的區(qū)別——測試時(shí)設(shè)備會給試樣測量表面施加一定的壓力（點(diǎn)接觸力或面接觸力），這樣可以避免在使用非接觸式測厚儀測量那些具有一定壓縮性、表面高低不平的材料時(shí)可能出現(xiàn)數(shù)據(jù)波動較大的現(xiàn)象。機(jī)械接觸式測厚儀采用的是zui傳統(tǒng)、zui基礎(chǔ)的測厚方法，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，對試樣沒有選擇性。由于這種測厚儀的測試精度主要取決于測厚傳感器的精度，所以目前市面上的機(jī)械接觸式測厚儀的測試精度參差不齊。Labthink蘭光研發(fā)生產(chǎn)的CHY-C2和CHY-CA測厚儀，采用超高分辨率0.1μm的傳感器，測試精度高且數(shù)據(jù)穩(wěn)定性*，可適用于各種薄膜、復(fù)合膜、薄片等材料的厚度檢測。設(shè)備符合符合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的測定–機(jī)械測量法）、GB/T 451.3-2002（紙和紙板厚度的測定）、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等測試標(biāo)準(zhǔn)。企業(yè)需要選購非在線測厚儀的話，可以考慮濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司的測厚儀設(shè)備。
3、渦流測厚儀、磁性測厚儀
渦流測厚儀和磁性測厚儀一般都是小型便攜式設(shè)備，分別利用了電渦流原理和電磁感應(yīng)原理。設(shè)備可用于各種特定涂層厚度的測量，但是用于測量薄膜、紙張的厚度時(shí)有出現(xiàn)誤差的可能。對于測試精度要求非常高的企業(yè)來講，選購時(shí)需要多加考慮，精度不夠高、容易出現(xiàn)誤差的現(xiàn)象，可能會給企業(yè)帶來不必要的麻煩。
4、超聲波測厚儀
超聲波測厚儀也多是小型便攜式設(shè)備，利用超聲波反射原理，可測金屬、塑料、陶瓷、玻璃以及其它任何超聲波良導(dǎo)體的厚度。可在高溫下工作，這是很多其它類型的測厚儀所不具備的，但對檢測試樣的種類具有選擇性。